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WPA?200 二維雙折射 / 殘余應力測量系統玉崎科學儀器原裝供應
更新時間：2026-09-04
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WPA?200 二維雙折射 / 殘余應力測量系統 玉崎科學儀器原裝供應
WPA?200 為 WPA 系列標準臺式基礎機型，面向高相位差、高殘余應力透明材料；采用自研光子晶體偏振成像傳感器 + 三波長解包裹技術；非接觸無損全視場面測量，2?5 秒輸出完整應力云圖；主打實驗室研發、小樣品質評估；同系列衍生大臺面 WPA?200?L、超大臺面 WPA?200?XL品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）
核心原理
搭載光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器等運動部件；采用523?nm / 543?nm / 575?nm 三波長測量，解決高相位差相位纏繞問題，實現寬量程大位相差檢測；輸出相位差、光軸角度，選配數據處理選件換算等效應力 MPa
關鍵技術參數
| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 測量波長 | 523?nm、543?nm、575?nm（三波長） |
| 相位差量程 | 0?3500?nm；選配高相位差選件最高可達 10000?nm |
| 傳感器像素 | 384?×?288（約 11 萬像素） |
| 標準視場 | 27×36?mm ~ 100×133?mm；選配變焦鏡頭縮小至 3.0×4.0?mm 微區觀測 |
| 重復精度 | 相位差 σ?10?nm |
| 測量時間 | 2?5?s / 全視場 |
| 輸出 | 相位差 (nm)、光軸角度 (°)；應力 MPa（選配） |
| 軟件 | WPA?View；云圖、線剖面、ROI 統計、CSV 導出 |
| 接口 | GigE；電源 AC100?240V 50?60Hz |
| 整機重量 | 約 13?kg；尺寸 270×337× 最大 631?mm |
?主要特點
寬量程適配高雙折射樣品：專門針對樹脂、厚塑膠等高相位差工件，普通單波長設備無法覆蓋該量程；
全視場一次成像，無需逐點掃描，測量速度快；
無運動光學部件，設備穩定性好、維護簡單；
軟件可生成二維應力云圖，直觀觀察注塑應力、冷卻應力分布；
可擴展變焦鏡頭、應力換算、遠程 API 等選件。
??典型應用樣品
?COP、PC、PMMA 注塑件、厚光學樹脂、導光板；?光學薄膜、擠出板材、VR/AR 樹脂光學元件；?評估注塑殘余應力、脫模應力、成型工藝帶來的應力分布。
??選型提示：低相位差玻璃、晶圓、藍寶石等基材優先選用 PA 系列；WPA?200 后續升級型號為 WPA?300，傳感器分辨率提升 5 倍，更適合工業質控場景。
??可選配件
變焦鏡頭、應力 MPa 數據處理選件、遮光罩、高相位差擴展套件、遠程控制 API 接口
Photonic?Lattice采購渠道
玉崎科學儀器（深圳）有限公司 原裝現貨供應
地址：廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學
項目負責人：林經理
