當前位置：
PA?300?NIR 近紅外二維雙折射 / 殘余應力測量系統玉科原裝供應現貨
更新時間：2026-09-04
點擊次數：26
PA?300?NIR 近紅外二維雙折射 / 殘余應力測量系統 玉崎科學儀器（深圳）有限公司 原裝現貨供應
品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）
PA?300?NIR 為 PA 系列近紅外專用臺式機型；硬件架構與 PA?300 一致，將測量光源改為850?nm 近紅外波長；用于可見光不透明、但近紅外可透過的低相位差材料；500 萬像素光子晶體偏振傳感器，非接觸無損快照測量，3?10 秒輸出二維雙折射云圖。區分：PA?300（520?nm 可見光）測普通玻璃；PA?300?NIR（850?nm）測紅外透光肉眼不透明材料；高相位差紅外樣品選用 WPA?200?NIR 三波長版本
核心原理
像素級光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；采用850?nm 近紅外單波長采集偏振信息；輸出相位差 (nm)、光軸角度 (°)；選配數據處理選件，輸入材料光彈系數換算等效應力 MPa
關鍵技術參數
表格
| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 測量波長 | 850?nm 近紅外 |
| 相位差量程 | 0?213?nm |
| 傳感器像素 | 2056?×?2464（約 500 萬像素） |
| 標準鏡頭視場 | 30×36?mm ～100×133?mm；選配變焦鏡頭 5.5×6.6?mm～25×30?mm 微區觀測 |
| 重復精度 | 相位差 σ?1.0?nm |
| 測量時間 | 3?10?s / 全視場 |
| 輸出 | 相位差 (nm)、光軸角度 (°)；應力 MPa（選配） |
| 軟件 | PA?View；云圖、線剖面、ROI 統計、CSV 導出、遠程 API 接口 |
| 整機尺寸 (W×D×H) | 270?×?337?×?最大 631?mm |
| 整機重量 | 約 12?kg |
| 接口 | GigE；電源 AC100?240V 50?60Hz |
?主要特點
近紅外波段測量：專門針對可見光下發黑 / 不透明，但 850?nm 紅外可透過的材料，可見光 PA?300 無法測量此類樣品
繼承 PA 系列 500 萬像素高分辨率，適合微弱雙折射定量檢測；快照式全視場成像，無運動部件，維護簡單穩定
支持變焦鏡頭，兼顧大面積全域檢測與局部微區觀測。
為單波長機型，不支持三波長、不支持高位相差擴展選件；樣品相位差不可超過 213?nm；高相位差紅外樣品選用 WPA?200?NIR（紅外三波長）。
??典型應用樣品
?硫系玻璃紅外鏡頭（Chalcogenide lens）；LiDAR 紅外光學元件、紅外窗口片.；?可見光不透明的特種紅外透光樹脂；?評估成型、加工帶來的內部殘余應力、注塑熔接痕應力分布
??選型提示
普通玻璃、晶圓等可見光透明樣品 → 標準 PA?300；
肉眼不透明、近紅外透光低相位差樣品 → PA?300?NIR；
近紅外透光但相位差大的樣品 → WPA?200?NIR（紅外三波長，大位相差量程）；
需要微區紅外應力測量：可對接 PA?micro?S 機頭搭配紅外顯微鏡光路。
??原廠可選配件
變焦鏡頭、應力 MPa 數據處理選件、遮光罩、視場校正功能、遠程控制 API 接口
采購渠道
玉崎科學儀器（深圳）有限公司 原裝現貨供應
地址：廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學
項目負責人：林經理
