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WPA?300 二維雙折射 / 殘余應力測量系統Photonic?Lattice玉科原裝供應
更新時間：2026-09-07
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WPA?300 二維雙折射 / 殘余應力測量系統Photonic?Lattice玉科原裝供應
品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）
WPA?300 是 WPA?200 系列新一代升級主力臺式機型；完整繼承 WPA?200 三波長大位相差測量能力，偏振傳感器分辨率提升 5 倍，可同時捕捉高相位差本體應力與局部微小應力集中；面向工業(yè)品質管控、研發(fā)分析；衍生大載臺版本 WPA?300?L。
核心原理
搭載自研光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；采用523?nm / 543?nm / 575?nm 三波長解包裹技術，解決高相位差相位纏繞；輸出相位差 (nm)、光軸角度 (°)；選配數據處理選件換算等效應力 MPa。
關鍵技術參數
| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 測量波長 | 523?nm、543?nm、575?nm（三波長） |
| 相位差量程 | 0?3500?nm；選配高相位差選件最高可達 10000?nm |
| 傳感器像素 | 848?×?680（約 57 萬像素，相對 WPA?200 提升 5 倍） |
| 標準鏡頭視場 | 36×45?mm ～ 100×133?mm；選配變焦鏡頭：12×15?mm～32×40?mm 微區(qū)觀測 |
| 重復精度 | 相位差 σ?10?nm |
| 測量時間 | 2?5?s / 全視場 |
| 輸出 | 相位差 (nm)、光軸角度 (°)；應力 MPa（選配數據處理功能） |
| 軟件 | WPA?View；云圖、線剖面、ROI 統計、色散模式、CSV 導出、遠程 API 接口 |
| 整機尺寸 (W×D×H) | 270?×?380?×?最大 624?mm |
| 整機重量 | 約 15?kg |
| 接口 | GigE；電源 AC100?240V 50?60Hz |
WPA?300?L：大樣品臺版本，最大樣品 240×320?mm，光學性能與 WPA?300 保持一致。
?主要特點
分辨率大幅提升：相比 WPA?200，傳感器分辨率提升 5 倍；既能測幾千 nm 大相位差，又可捕捉注塑件局部細小應力集中、微小應力梯度，適合工業(yè)質控定量判定.。
保留三波長寬量程優(yōu)勢，適配 COP、PC 等高雙折射樹脂材料。
全視場快照式成像，無需逐點掃描；無運動光學部件，設備穩(wěn)定、維護量低。
支持變焦鏡頭，兼顧大面積全域檢測與局部微區(qū)應力觀察。
軟件具備色散模式、實時分析、遠程控制 API，便于對接自動化流程。
??典型應用樣品
?COP、PC、PMMA 注塑件、厚光學樹脂、導光板；?光學薄膜、擠出板材、VR/AR 樹脂光學元件；?工業(yè)場景：注塑工藝評估、量產件品質檢查，識別局部應力集中缺陷。
??選型提示
WPA?200 適合基礎研發(fā)；工業(yè)質控優(yōu)先選 WPA?300/WPA?300?L，細節(jié)分辨能力更強。
大尺寸樣品≤240×320?mm 選用 WPA?300?L；500?mm 級超大樣品選用 WPA?200?XL。
玻璃、晶圓、藍寶石等低相位差樣品應選用 PA 系列。
??原廠可選配件
變焦鏡頭、應力 MPa 數據處理選件、高相位差擴展套件、遮光罩、視場校正功能、遠程控制 API 接口、光彈性系數測量模塊
采購渠道
玉崎科學儀器（深圳）有限公司 原裝現貨供應
地址：廣東省深圳市龍華新區(qū)龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學
項目負責人：林經理
