核心技術(shù)參數(shù)

• 中心頻率：50 MHz（±1 MHz）

• 振子直徑：6 mm

• 焦距：12.7 mm（固定焦點(diǎn)，近場優(yōu)化）

• 壓電材料：P (VDF-TrFE) 高分子壓電薄膜

• 結(jié)構(gòu)：無透鏡設(shè)計(jì)（無需聲學(xué)透鏡）

• 接口：標(biāo)準(zhǔn) UHF / Microdot 可選

• 聲阻抗：接近水，低損耗傳輸

• 頻寬：寬帶響應(yīng)，適合脈沖回波檢測

• 外殼：不銹鋼，工業(yè)級密封

• 工作溫度：-20℃ ~ 60℃

產(chǎn)品特點(diǎn)（PT 系列核心優(yōu)勢）

1. 無透鏡技術(shù)：P (VDF-TrFE) 薄膜直接收發(fā)超聲，無透鏡雜波干擾，波形更干凈、分辨率更高。

2. 高頻高分辨率：50 MHz 兼顧穿透與分辨率，適合精密近場檢測、薄層 / 界面成像。

3. 近場性能強(qiáng)：可貼近被測物，消除透鏡回波噪聲，近場信號信噪比高。

4. 低損耗匹配：阻抗與水接近，超聲能量幾乎無損耗，靈敏度高。

5. 高穩(wěn)定性：全密封結(jié)構(gòu)，適配超聲顯微鏡 SAM、超聲成像 SAT、半導(dǎo)體 / 材料精密無損檢測。

   
   

典型應(yīng)用

• 超聲波掃描顯微鏡（SAM）

• 超聲波成像系統(tǒng)（SAT）

• 半導(dǎo)體晶圓、封裝、基板缺陷檢測

• 材料科學(xué)：薄膜、涂層、復(fù)合材料、界面檢測

• 精密工業(yè)無損檢測（近場、高分辨率、薄層測量）