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玉科到貨：PA?micro顯微型二維雙折射殘余應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)Photonic?Lattice
更新時(shí)間：2026-09-03
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到貨公告
各位客戶、合作伙伴：大家好！
我司新一批 PA?micro顯微型二維雙折射殘余應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)日本Photonic?Lattice已完成入庫(kù)、檢驗(yàn)、上架工作，目前庫(kù)存充足，可正常接單、發(fā)貨。
PA?micro 顯微型二維雙折射殘余應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)，日本 Photonic?Lattice；單波長(zhǎng) 520?nm，相位差量程 0?130?nm；500 萬像素，搭載科研顯微鏡實(shí)現(xiàn)微米級(jí)微區(qū)測(cè)量，測(cè)量視場(chǎng) 142×170μm~3.5×4.2mm；非接觸無損快照測(cè)量，3?10 秒輸出顯微視場(chǎng)相位差、光軸角度分布云圖；用于 TGV 玻璃通孔、芯片局部、微小光學(xué)元件等低相位差樣品微區(qū)應(yīng)力分析；配套 PA?View 分析軟件。
主要特點(diǎn)
顯微微區(qū)面測(cè)量：把雙折射應(yīng)力測(cè)量下沉至微米尺度，觀察器件局部位置應(yīng)力集中，普通臺(tái)式 PA?300 無法達(dá)到該微觀視場(chǎng)；快照式全視場(chǎng)成像，不需要逐點(diǎn)掃描。
兩種供貨形態(tài)：
PA?micro：完整成套，含奧林巴斯 / 尼康顯微鏡整套；開箱即可使用。
PA?micro?S：僅偏振測(cè)量機(jī)頭，可對(duì)接用戶已有兼容顯微鏡，節(jié)省設(shè)備成本。
無運(yùn)動(dòng)光學(xué)部件，穩(wěn)定性好，適合實(shí)驗(yàn)室材料微觀機(jī)理研究。
?不支持變焦鏡頭、不支持三波長(zhǎng)色散模式；僅適合低相位差樣品；高雙折射微區(qū)樣品選用 WPA?micro。
??典型應(yīng)用樣品
我司將持續(xù)保障貨源穩(wěn)定、供貨及時(shí)，竭誠(chéng)為大家提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)。
如需詢價(jià)、訂購(gòu)、索取產(chǎn)品資料及資質(zhì)文件，可隨時(shí)與我司對(duì)接人員聯(lián)系。
品牌負(fù)責(zé)人：林經(jīng)理
玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司
2026年9月2日
優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品：日本紫外線照度計(jì)、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測(cè)燈
變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、氧氣濃度計(jì)、焊接機(jī)、應(yīng)力表面檢查儀、LED光源機(jī)、電子天平、粘度計(jì)、膜厚計(jì)、恒流泵、采樣泵、PH計(jì)、水分計(jì)、地震測(cè)試儀、脫泡攪拌機(jī)、壓力傳感器、氣體檢測(cè)儀、接近開關(guān)、拉拔機(jī)、異音檢測(cè)儀、應(yīng)變測(cè)試儀、拉針儀、水平測(cè)試儀等
