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玉科到貨：PA?300?MT 模塊化分體式二維雙折射 / 殘余應(yīng)力測量單元
更新時間：2026-09-03
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到貨公告
各位客戶、合作伙伴：大家好！
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PA?300?MT 模塊化分體式二維雙折射 / 殘余應(yīng)力測量單元
PA?300?MT 是 PA 系列模塊化集成型測量機(jī)頭單元；光學(xué)測量性能與 PA?300 一致，光源與傳感機(jī)頭可與樣品臺分離；主打設(shè)備嵌入、半在線 / 離線自動化工位集成，既可以簡易臺式使用，也可集成到客戶工裝、自動化設(shè)備；500 萬像素，面向低相位差精密基材無損面測量，3?10 秒輸出全域雙折射云圖核心原理
像素級光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉(zhuǎn)檢偏器運動部件；單波長520?nm 綠光，針對 0?130?nm 微弱相位差信號優(yōu)化；輸出相位差 (nm)、光軸角度 (°)；選配數(shù)據(jù)處理選件輸入光彈系數(shù)換算等效應(yīng)力 MPa
主要特點
光源?傳感頭可與樣品臺分離：區(qū)別 PA?300 一體化臺式；機(jī)頭可倒裝、側(cè)裝，集成至客戶自動化工裝、機(jī)械手工位、半在線檢測工位；樣品臺可由客戶自有運動機(jī)構(gòu)提供。
完整繼承 PA 系列 500 萬像素高靈敏度，適合玻璃、晶圓微弱殘余雙折射定量檢測；快照式成像，無運動光學(xué)部件，適合工業(yè)環(huán)境長期穩(wěn)定運行。
支持變焦鏡頭，兼顧全域檢測與局部微區(qū)觀測。
開放外部控制 API 接口：支持上位機(jī)觸發(fā)測量、獲取測量結(jié)果，對接 PLC、MES、用戶自動化軟件；支持實時解析功能選件。
兩種使用形態(tài)：①配套簡易底座做實驗室臺式；②拆除底座，機(jī)頭直接集成客戶設(shè)備。
?單波長機(jī)型，不支持三波長、不支持高位相差擴(kuò)展；樣品相位差上限 130?nm；高相位差集成場景選用 WPA?300?MT。
??典型應(yīng)用樣品
我司將持續(xù)保障貨源穩(wěn)定、供貨及時，竭誠為大家提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)。
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品牌負(fù)責(zé)人：林經(jīng)理
玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司
2026年9月2日
優(yōu)勢產(chǎn)品：日本紫外線照度計、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測燈
變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、氧氣濃度計、焊接機(jī)、應(yīng)力表面檢查儀、LED光源機(jī)、電子天平、粘度計、膜厚計、恒流泵、采樣泵、PH計、水分計、地震測試儀、脫泡攪拌機(jī)、壓力傳感器、氣體檢測儀、接近開關(guān)、拉拔機(jī)、異音檢測儀、應(yīng)變測試儀、拉針儀、水平測試儀等
