到貨公告

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WPA?300?L 二維雙折射殘余應力測量系統，日本 Photonic?Lattice；三波長 523/543/575?nm，相位差量程 0?3500?nm；大樣品臺最大可測 240×320?mm 樣品；偏振傳感器分辨率較 WPA?200 提升 5 倍；非接觸無損全域面測量，2?5 秒輸出相位差、光軸角度分布云圖；可捕捉局部微小應力集中，用于中大尺寸透明樹脂、光學薄膜等高應力樣品研發與工業品質管控；配套 WPA?View 分析軟件

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品牌負責人：林經理

玉崎科學儀器（深圳）有限公司

2026年9月3日