玉科現貨OSI王子計測超高相位差測量裝置

玉科現貨OSI王子計測超高相位差測量裝置

超高相位差測量裝置 PAM-UHR100

■特點
測量方法
平行尼科爾光譜

法 樣品尺寸
□40mm，厚度≤3mm

測量項目
相位差 取向角，雙折射

Oji Keisoku (OSI 王子計測) PAM-UHR100 超高相位差測量裝置 產品介紹

一、核心定位與測量原理

1. 產品定位

• 核心用途：精準測量超大相位差透明拉伸薄膜的相位差、分子配向角、雙折射 Δn，評估拉伸取向均勻性、熱收縮特性、光學各向異性，解決常規相位差儀量程不足（僅測 0~1000nm）、大相位差無法讀數 / 跳數的問題

• 核心優勢：超大量程 800~20000nm、重復精度 ±1nm、固定偏振光學系統、一鍵自動計算雙折射、臺式緊湊穩定

• 適用場景：PET/PC/PMMA 等光學 / 包裝拉伸膜、收縮膜、磁帶基膜、光盤基材、高雙折射高分子材料的研發、IQC、產線抽檢、工藝參數優化

2. 測量原理（平行尼科爾分光法）

• 采用固定偏光子 + 固定檢光子 + 白光 LED + 分光檢測的平行尼科爾光學架構，避免旋轉部件磨損、漂移，適合超大相位差穩定測量

• 原理：白光經偏光→樣品→檢光→分光器，通過光譜干涉信號解析，直接計算超大相位差（800~20000nm）、配向角；輸入樣品厚度后，自動計算雙折射 Δn，無需人工換算

• 光源：白色 LED 固態光源，壽命長、波長穩定、免預熱，適配寬光譜相位差分析

二、關鍵技術參數（標準）

1. 測量核心參數

• 測量項目：相位差 (Retardation)、配向角、雙折射 Δn

• 相位差量程：800~20000nm（20μm）（行業頂級超大量程，覆蓋所有高拉伸薄膜）

• 相位差重復精度：±1nm（3σ）

• 配向角測量范圍：0~180°

• 配向角精度：±0.1°

• 測量光斑：標準 φ5mm（適配 40mm 方形樣品）

• 測量速度：單點位≤10 秒（含光譜采集 + 計算）

• 樣品規格：方形 40mm×40mm，厚度≤3mm（透明拉伸薄膜、片材）

2. 硬件規格（臺式緊湊一體化）

• 主機尺寸：W415 × D325 × H165 mm

• 主機重量：約 14kg（緊湊臺式，易放置于實驗室 / 產線工位）

• 供電：AC100V±10%，50/60Hz（可適配寬電壓）

• 環境要求：溫度 10~35℃、濕度 20~80% RH（無結露）

• 系統配置：測量主機（含光學系統 + 光源 + 分光器）、專用 Windows 控制軟件、樣品臺、校準件、數據線、電源線

3. 軟件與數據功能

• 專用 Windows 軟件：實時顯示相位差 / 配向角 /Δn 數值、光譜曲線、測量數據統計（均值、標準差、Cpk）、合格判定

• 數據輸出：CSV、Excel、PDF 報告，支持批量導出、歷史數據追溯、SPC 品質管控

• 操作：一鍵測量、自動校準、厚度輸入→自動算 Δn、參數預設、樣品定位輔助，操作簡單、無需專業光學背景

三、核心產品優勢

1. 超大相位差量程，解決行業測量盲區

• 常規相位差儀僅測 0~1000nm，PAM-UHR100 覆蓋800~20000nm，適配高拉伸 PET/PC 膜、收縮膜、磁帶基膜等超大相位差樣品，無量程上限困擾、無跳數 / 無法讀數問題

• 固定偏振光學系統，無旋轉部件，長期穩定性強、漂移小、維護成本低

2. 超高重復精度，保證測量一致性

• 相位差重復精度 **±1nm**，在 20000nm 超大量程下仍保持高精度，滿足研發級、量產級品質管控要求

• 白光分光檢測，抗干擾強，不受樣品輕微厚度 / 透光率波動影響

3. 一鍵全參數輸出，提升效率

• 一次測量同時得到相位差、配向角、雙折射 Δn，輸入厚度自動計算 Δn，無需二次換算

• 單點位≤10 秒，比傳統手動 / 旋轉式設備效率提升，適配批量抽檢

4. 緊湊穩定，適配多場景

• 臺式一體化、重量輕（14kg），可靈活放置于實驗室研發臺、產線質檢工位

• LED 固態光源，壽命 > 20000 小時，免預熱、開機即用，適合高頻次測量

四、典型應用領域

1. 高分子薄膜行業：PET/PC/PMMA 拉伸膜、收縮膜、光學補償膜、磁帶基膜、包裝膜的拉伸取向評估、熱收縮特性分析、雙折射管控

2. 光學材料研發：高雙折射高分子材料、光盤基材、液晶配套高相位差膜的研發與性能驗證

3. 產線品質管控：高拉伸薄膜來料 IQC、工藝參數優化、成品均勻性抽檢，解決大相位差無法測量的痛點

五、與同系列常規機型對比（PAM-PR300 vs PAM-UHR100）

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