KAMAKIRI 系列 線掃描式離線 / 在線雙折射應力檢測系統 玉崎科學儀器（深圳）有限公司  原裝現貨供應

品牌：Photonic?Lattice（株式會社フォトニックラティス，日本）

定位：光學薄膜產線專用線掃描雙折射（位相差）檢測設備，打通實驗室研發（PA/WPA 臺式機）→量產在線質控；將光子晶體偏振傳感器 + Photron 高速相機結合，實現走帶狀態下連續掃描，輸出相位差 nm、光軸角度 °、應力分布云圖，替代傳統人工抽樣檢測，可實現整卷薄膜 100% 全幅全長度檢測。軟件：KAMAKIRI Live?Viewer；支持實時畫面、OK/NG 判定、缺陷報警、缺陷位置記錄、數據存儲導出、對接產線 MES 系統。

核心技術原理

硬件：內置自研光子晶體偏振陣列傳感器，搭配 Photron 高速線掃描相機，無旋轉機械部件；

工作模式：線掃描（Line?Scan），薄膜走帶行進過程中，連續采集橫向一整條線偏振數據，拼接生成二維全域雙折射分布圖；輸出物理量：相位差（Retardation，nm）、光軸主軸角度（0?180°）；選配數據處理選件換算應力 MPa；

算法統一：X?Stage 離線機型與 STS?LS 在線機型使用同一套測量算法；研發階段離線驗證，后期直接升級部署產線，數據可比對，消除研發?量產設備差異。

全系列型號詳解

1. KAMAKIRI?X?Stage（離線臺式線掃描機型）

定位：研發 / 小批量抽檢，產線導入前驗證入門機型，后期可升級為在線系統..

類型：離線臺式，樣品放置移動平臺掃描，不需要接產線走帶；

標準最大樣品尺寸：A4 幅面；支持裁切薄膜樣片、小片基材檢測；

測量波長：標準 543?nm，支持定制波長；

相位差量程：標準 0?260?nm；可定制大位相差版本（WPA?KAMAKIRI，三波長，最高 0?3500nm，選件可達 10000nm）；

重復精度：相位差 σ＜1?nm；光軸角度 σ＜1°；

軟件：KAMAKIRI Live?Viewer；云圖、剖面分析、NG 閾值判定；

?適用場景：實驗室研發、來料抽檢、配方工藝評估；TAC、COP、PET、PI 光學膜樣片；

優勢：算法與在線機一致，用小樣模擬產線檢測效果，規避直接采購昂貴在線設備風險。

2. KAMAKIRI?MEM?LS（在線定點條帶掃描｜抽樣式在線檢測）

定位：產線上定點窄幅掃描，替代人工抽樣檢測

安裝在薄膜流延 / 拉伸產線上；單相機，只掃描膜幅上 1 條或多條指定條帶；不做全幅檢測；

產線走帶速度最高可達 30?m/min；

特點：成本低于全幅 STS?LS；快速監控產線工藝波動；異常實時報警，快速停機減少不良品產出；

?適用：產線初步質控，抽樣監控，不要求 100% 全覆蓋。

3. KAMAKIRI?STS?LS（全幅寬全長度在線檢測｜量產主力）

定位：整卷薄膜 100% 全覆蓋在線檢測；多相機拼接實現完整幅寬檢測.

單相機最大掃描幅寬約 600?mm；多相機拼接，可定制支持5 米以上超寬薄膜產線；

走帶速度最高 30?m/min；

測量波長：標準 543?nm；量程 0?260?nm；

輸出：實時全幅雙折射云圖；OK/NG 自動判定；缺陷坐標記錄；報警輸出對接產線；完整數據日志留存；

?適用：TAC/COP/PVA/PET/PI 光學薄膜量產工廠，整卷產品全檢，防止不良流出；顯示、偏光片光學膜量產質控。

4. KAMAKIRI?MEM?AS（高速面掃描模塊）

高速面掃描版本；針對動態變化樣品；適合觀察材料受力過程雙折射實時變化；多用于工藝開發驗證。

5. WPA?KAMAKIRI（大位相差版本 KAMAKIRI）

三波長 523/543/575?nm；相位差量程 0?3500?nm，選件最高 10000?nm；專門針對高雙折射厚膜、PET、厚樹脂膜；X?Stage 離線和 STS?LS 在線均可以選 WPA 光學配置.。

??KAMAKIRI 系列通用基礎參數（標準 543nm 版本）

項目參數

測量波長標準 543?nm（可定制其他波長；WPA?KAMAKIRI 三波長 523/543/575?nm）

相位差量程標準 0?260?nm；WPA?KAMAKIRI：0?3500nm，選件 10000nm

光軸角度范圍0?180°

重復精度相位差 σ＜1?nm；光軸角度 σ＜1°

最大走帶速度最高 30?m/min

單相機掃描寬度最大 600?mm；多相機拼接擴展至 5m+

輸出相位差 (nm)、光軸角度 (°)；應力 MPa（選配數據處理選件）

軟件KAMAKIRI Live?Viewer；實時監控、NG 判定、缺陷坐標、CSV 導出、MES 對接 API

接口工業通訊，可對接產線 PLC/MES

??典型適用樣品

?顯示光學膜：TAC、COP、COC、PVA 偏光片基膜；?功能薄膜：PET、PEN、PI、流延高分子薄膜；?樹脂板材、光學注塑件切片樣品；

??選型區分

樣品相位差低（0?260nm）→標準 KAMAKIRI（543nm）

厚 PET、高雙折射膜，相位差幾百?幾千 nm →必須選 WPA?KAMAKIRI 三波長版本。

??原廠可選配件 & 選件

WPA 高相位差光學套件：升級三波長，量程 0?3500nm（最高 10000nm）；

數據處理選件：應力 MPa 換算；輸入材料光彈系數；

產線對接 API 接口：對接 PLC/MES；報警繼電器輸出；

多相機擴展模塊（STS?LS），擴展掃描幅寬；

NIR 近紅外波長定制（紅外透光材料）。

KAMAKIRI 選型決策指南

型號使用場景是否接入產線核心價值

KAMAKIRI?X?Stage研發、小樣評估，產線導入驗證?離線臺式算法和在線機一致，低成本預驗證，后期可升級

KAMAKIRI?MEM?LS產線定點條帶監控，抽樣質控?在線成本適中，監控工藝波動

KAMAKIRI?STS?LS量產 100% 全幅全長度檢測?在線整卷全檢，缺陷定位，防止不良流出

WPA?KAMAKIRI高相位差厚膜、高雙折射材料離線 / 在線均可三波長，覆蓋幾千 nm 大位相差樣品

采購渠道

玉崎科學儀器（深圳）有限公司  原裝現貨供應

地址：廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學

項目負責人：林經理