當前位置：
Photonic?Lattice自研光子晶體偏振成像傳感器玉崎科學儀器原裝供應
更新時間：2026-09-03
點擊次數：34
Photonic?Lattice（株式會社フォトニックラティス，日本）自研光子晶體偏振成像傳感器玉崎科學儀器原裝供應
定位：二維雙折射 / 殘余應力無損面測量設備廠商，自研光子晶體偏振成像傳感器；數秒輸出整片樣品應力云圖，面向半導體、光學、顯示行業；直接對標日本三鷹光器 Mitaka。
測量原理：偏振光非接觸無損檢測；輸出相位差（位相差 nm）、光軸角度 (°)、換算應力 (MPa)，生成樣品全域雙折射 / 應力分布云圖；無需切片、不損傷工件。
軟件：WPA?View / PA?View；支持云圖、線剖面分析、區域統計、應力換算、數據導出、遠程控制
四大產品線完整整理
一、WPA 系列｜大位相差?高應力樣品（三波長：523/543/575?nm）
WPA?200：標準臺式，實驗室通用機型
WPA?200?L：大載臺，大尺寸基板、光學膜
WPA?200?XL：超大臺面，最大樣品約 500?mm
WPA?300 / WPA?300?L：新一代，偏振傳感器分辨率提升 5 倍，捕捉極微小應力變化，工業質控主力機型
二、PA 系列｜低相位差?超高精度（單波長 520?nm，量程 0?130?nm；500 萬像素）
PA?300：臺式主機，玻璃、晶圓、藍寶石、SiC 襯底
PA?micro：顯微鏡搭載微區測量；可配奧林巴斯 / 尼康顯微鏡，測芯片局部、微小光學元件，微米級區域應力觀測。
PA?300?NIR：近紅外版本（850?nm），測量可見光不透、紅外透光材料（LiDAR 元件、深色樹脂）.。
PA?300?MT：分體式模塊，可集成到產線設備內部。
三、KAMAKIRI 系列｜產線在線 / 離線掃描機型（Photron 高速相機 + Photonic?Lattice 偏振芯片）
KAMAKIRI?X?Stage：離線臺式線掃描機型；算法與在線機型一致；產線導入前的入門驗證機型，大樣品離線抽檢；可后期升級為完整在線系統。
KAMAKIRI?MEM?LS：在線定點條帶掃描，采集薄膜幅寬局部區域，替代抽樣檢測。
KAMAKIRI?STS?LS：全幅寬連續在線檢測；整卷薄膜 100% 全覆蓋檢測，光學薄膜工廠量產主力機型。
四、其他衍生單元
CRYSTA 偏振高速相機：獨立偏振成像相機，可集成第三方設備；
NIR 選件：WPA?200?NIR，高應力紅外材料測量；
Rheo?Iris：與安東帕流變儀聯動，流變?偏振成像同步測量。
??WPA vs PA 核心選型對比表
| 項目 | WPA 系列 | PA 系列 |
|---|---|---|
| 測量波長 | 三波長 523/543/575?nm | 單波長 520?nm（?NIR 為 850nm 近紅外） |
| 相位差量程 | 0?3500?nm（可選擴展 10000?nm） | 0?130?nm |
| 像素 | WPA?300 分辨率較 WPA?200 提升 5 倍 | 500 萬像素 |
| 樣品特征 | 高雙折射、厚樹脂、注塑件 | 低雙折射、玻璃、晶圓、硬質基材 |
| 代表型號 | WPA?300?L | PA?300?NIR、PA?micro |
??對標：Photonic?Lattice VS Mitaka（三鷹光器）
| 對比項 | Photonic?Lattice | Mitaka 三鷹光器 |
|---|---|---|
| 核心技術 | 光子晶體偏振陣列傳感器 | 相位差調制旋轉檢偏器 |
| 測量速度 | 快，數秒完成全視場成像 | 中等 |
| 高相位差能力 | 優秀 (WPA 三波長，最高 10000nm) | 中等 |
| 微區測量 | PA?micro 接顯微鏡 | MLP 系列顯微模塊 |
| 在線產線方案 | 完整 KAMAKIRI 量產系列 | 以實驗室臺式為主，在線方案較少 |
| 軟件 | 全域云圖、應力換算、剖面分析 | 相位差、光軸角度測量 |
Photonic?Lattice（株式會社フォトニックラティス，日本）供貨采購渠道
玉崎科學儀器（深圳）有限公司 原裝現貨供應
地址：廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學
項目負責人：林經理
