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Ihara伊原電子T5plusUV+紫外線透射密度計玉崎科學儀器原裝現貨供應
紫外線透射密度/透射率儀T5plusUV特征/測量項目◎可測量高達6.0D密度、密度測量、半色調百分比(負片/正片兼容)、透射率和校正功能。配件?孔徑:Φ3mm、Φ2mm、Φ1mm?使用說明書(含保修)?校準/驗證膠片?交流適配器(DC9-12V,0.5-0.8A)?通訊線(可選)?白色包裝盒(標配)或便攜箱(可選)產品描述可測量密度(光密度)/半色調百分比(負片/正片)/透射率。配備校正功能。體積小巧,重量輕。■主要測量對象:各類合成樹脂(薄膜、乙烯...
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MIYUKI 美幸輝 BAR?J100 JIS DN100 經濟型電動伺服蝶閥鍍膜 鋰電常規工藝
MIYUKI美幸輝BAR?J100|JISDN100經濟型電動伺服蝶閥(鍍膜/鋰電常規工藝)原裝現貨供應:玉崎科學儀器(深圳)有限公司品牌負責人林經理詳細辦公地址(廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層)型號:BAR?J100,JISDN100(100A)電動伺服蝶閥,可選型?B帶電磁抱閘版本BAR系列經濟型伺服蝶閥,DC24V伺服電機直驅,蝶板式結構,性價比高,0?90°全行程無級開度調節;相比GAR閘閥成本更低,適合工業PVD鍍膜、鋰電脫氣、中試等離子腔體常...
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MIYUKI 美幸輝 BAZ?J25 JIS DN25 電動數字定點蝶閥真空爐釬焊定點控制
MIYUKI美幸輝BAZ?J25|JISDN25電動數字定點蝶閥(真空爐/釬焊定點控制)原裝供應:玉崎科學儀器(深圳)有限公司,品牌負責人林經理辦公地址:廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層型號:BAZ?J25,JISDN25(25A)數字定點電動蝶閥,需配套原廠MS?PC定點控制器成套使用BAZ系列為檔位定點開度型蝶閥,伺服電機直驅,00?99共100檔數字定位,可直接設定5%、25%、50%、75%等固定開度;內置電磁抱閘斷電鎖位,無PID連續閉環,主打固...
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PA?micro 顯微型二維雙折射 / 殘余應力測量系統Photonic?Lattice玉科原裝
PA?micro顯微型二維雙折射/殘余應力測量系統品牌:Photonic?Lattice(フォトニックラティス,日本)PA?micro屬于PA系列顯微微區專用機型,分為完整成套PA?micro(含顯微鏡)和機頭版PA?micro?S(僅測量機頭,無顯微鏡)。將500萬像素光子晶體偏振成像單元搭載于科研級顯微鏡,實現微米級視場下低相位差、微弱殘余應力二維面測量;非接觸無損快照成像,3?10秒輸出顯微視場相位差、光軸角度云圖;專門用于微小器件局部微區應力分析。核心原理沿用PA系列...
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PA?300 二維雙折射 / 殘余應力測量系統Photonic?Lattice玉崎科學原裝供應
PA?300二維雙折射/殘余應力測量系統日本Photonic?Lattice玉崎科學原裝供應品牌:Photonic?Lattice(フォトニックラティス,日本)PA?300為PA系列標準臺式基礎機型;面向低相位差、微弱殘余應力精密硬質基材;搭載500萬像素光子晶體偏振成像傳感器,無旋轉運動部件;非接觸無損全域快照測量,3?10秒輸出完整應力云圖;衍生大載臺PA?300?L、超大臺面PA?300?XL、近紅外PA?300?NIR、模塊化PA?300?MT型號。核心原理自研像素級...
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WPA?300?L 二維雙折射 / 殘余應力測量系統玉科原裝現貨
WPA?300?L二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學儀器(深圳)有限公司原裝現貨供應品牌:Photonic?Lattice(フォトニックラティス,日本)WPA?300?L是WPA?300系列大載臺工業版機型;光學傳感器性能與WPA?300一致(分辨率較WPA?200提升5倍),加大樣品承載臺面,最大樣品可達240×320mm;面向中大尺寸高相位差透明工件,無損非接觸全視場快照測量,2?5秒輸出全域應力云圖,適合工業品質管控與研發分析。核心原理搭載自研光子晶體偏振陣列傳感器,...
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WPA?300 二維雙折射 / 殘余應力測量系統Photonic?Lattice玉科原裝供應
WPA?300二維雙折射/殘余應力測量系統Photonic?Lattice玉科原裝供應品牌:Photonic?Lattice(フォトニックラティス,日本)WPA?300是WPA?200系列新一代升級主力臺式機型;完整繼承WPA?200三波長大位相差測量能力,偏振傳感器分辨率提升5倍,可同時捕捉高相位差本體應力與局部微小應力集中;面向工業品質管控、研發分析;衍生大載臺版本WPA?300?L。核心原理搭載自研光子晶體偏振陣列傳感器,無旋轉檢偏器運動部件;采用523nm/543nm...
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WPA?200?L 二維雙折射 / 殘余應力測量系統玉崎科學原裝供應
WPA?200?L二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學原裝供應品牌:Photonic?Lattice(フォトニックラティス,日本)WPA?200?L屬于WPA?200系列大載臺版本;光學測量性能與WPA?200一致,僅放大樣品承載平臺,用于中?大尺寸高相位差透明工件;非接觸無損全域面測量,2?5秒輸出完整應力云圖。核心原理搭載光子晶體偏振陣列傳感器,無旋轉檢偏器運動部件;采用523nm/543nm/575nm三波長解包裹技術,解決高相位差相位纏繞;輸出相位差(nm)、光軸角度...
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WPA?200?XL 二維雙折射 / 殘余應力測量系統玉科原裝供應
WPA?200?XL二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學儀器(深圳)有限公司原裝現貨供應品牌:Photonic?Lattice(フォトニックラティス,日本)WPA?200?XL為WPA?200系列超大臺面機型;光學測量性能與WPA?200、WPA?200?L保持一致,專門用于最大約500mm級超大尺寸高相位差透明工件;非接觸無損全域面測量,2?5秒輸出完整應力云圖;該型號不支持變焦鏡頭選件。核心原理搭載自研光子晶體偏振陣列傳感器,無旋轉檢偏器運動部件;采用523nm/543n...
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PA?300?MT 模塊化分體式二維雙折射 / 殘余應力測量單元
PA?300?MT模塊化分體式二維雙折射/殘余應力測量單元品牌:Photonic?Lattice(フォトニックラティス,日本)PA?300?MT是PA系列模塊化集成型測量機頭單元;光學測量性能與PA?300一致,光源與傳感機頭可與樣品臺分離;主打設備嵌入、半在線/離線自動化工位集成,既可以簡易臺式使用,也可集成到客戶工裝、自動化設備;500萬像素,面向低相位差精密基材無損面測量,3?10秒輸出全域雙折射云圖。核心原理像素級光子晶體偏振陣列傳感器,無旋轉檢偏器運動部件;單波長5...
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PA?300?NIR 近紅外二維雙折射 / 殘余應力測量系統玉科原裝供應現貨
PA?300?NIR近紅外二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學儀器(深圳)有限公司原裝現貨供應品牌:Photonic?Lattice(フォトニックラティス,日本)PA?300?NIR為PA系列近紅外專用臺式機型;硬件架構與PA?300一致,將測量光源改為850nm近紅外波長;用于可見光不透明、但近紅外可透過的低相位差材料;500萬像素光子晶體偏振傳感器,非接觸無損快照測量,3?10秒輸出二維雙折射云圖。區分:PA?300(520nm可見光)測普通玻璃;PA?300?NIR(8...
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CRYSTA 系列 高速偏振相機瞬態動態雙折射 / 應力專用高速偏振成像相機
CRYSTA系列高速偏振相機瞬態動態雙折射/應力專用高速偏振成像相機品牌:Photonic?Lattice(フォトニックラティス,日本),與Photron(富特朗)聯合開發CRYSTA是瞬態動態雙折射/應力專用高速偏振成像相機;區別PA/WPA靜態臺式測量系統,專門捕捉微秒?毫秒級動態過程,無旋轉檢偏機械部件,單次曝光獲取全部二維偏振信息;可獨立使用,也可成套集成Rheo?Iris流變同步系統、DELTAPH高速干涉儀。核心原理光子晶體像素級微偏振陣列CMOS傳感器,2×2像...
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